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局放巡检测量仪

更新时间:2020-03-12
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所属分类:局部放电检测仪
描述:局放巡检测量仪其次是有些设备的运行过程中会发生热胀冷缩,不同材料特别是导体与介质的膨胀系数不同,也会逐渐出现裂缝;再有一些是在运行过程中有机高分子的老化,分解出各种挥发物,在高场强的作用下,电荷不断地由导体进入介质中, 在注入点上就会使介质气化。
详情介绍

局放巡检测量仪

定义及产生原因

     在电场作用下,绝缘系统中只有部分区域发生放电,但尚未击穿,(即在施加电压的导体之间没有击穿)。这种现象称之为局部放电。局部放电可能发生在导体边上,也可能发生在绝缘体的表面上和内部,发生在表面的称为表面局部放电。发生在内部的称为内部局部放电。而对于被气体包围的导体附近发生的局部放电,称之为电晕。由此 总结一下局部放电的定义,指部分的桥接导体间绝缘的一种电气放电,局部放电产生原因主要有以下几种:

电场不均匀。

电介质不均匀。

制造过程的气泡或杂质。zui经常发生放电的原因是绝缘体内部或表面存在气泡;其次是有些设备的运行过程中会发生热胀冷缩,不同材料特别是导体与介质的膨胀系数不同,也会逐渐出现裂缝;再有一些是在运行过程中有机高分子的老化,分解出各种挥发物,在高场强的作用下,电荷不断地由导体进入介质中, 在注入点上就会使介质气化。

模拟电路及放电过程简介

介质内部含有气泡,在交流电压下产生的内部放电特性可由图1—1的模拟电路(a b c等值电路)予以表示;其中Cc是模拟介质中产生放电间隙(如气泡)的电容;Cb代表与Cc串联部分介质的合成电容;Ca表示其余部分介质的电容。

 

             (a)  实际介质                            (b)  模拟电路

I——介质有缺陷(气泡)的部份(虚线表示)

                II——介质无缺陷部份

图1—1  表示具有内部放电的模拟电路

图1—1中以并联有—对火花间隙的电容Cc来模拟产生局部放电的内部气泡。图1—2表示了在交流电压下局部放电的发生过程。

图1-2  介质内单个气泡在交流电压下的局部放电过程

U(t)一一外施交流电压

Uc(t)一一气泡不击穿时在气泡上的电压

Uc’(t)一一有局部放电时气泡上的实际电压

Vc一一气泡的击穿电压

Y r一一气泡的残余电压   

Us—局部放电起始电压(瞬时值)

Ur一一与气泡残余电压v r对应的外施电压

Ir一一气泡中的放电电流

电极间总电容Cx=Ca+(Cb×Cc)/(Cb+Cc)=Ca电极间施加交流电压 u(t)时,气泡电容Cc上对应的电压为Uc(t)。如图2—1所示,此时的Uc(t)所代表的是气泡理想状态下的电压(既气泡不发生击穿)。

局放巡检测量仪

Uc(t)=U(t)×Cb/Cc+Cb

外施电压U(t)上升时,气泡上电压Uc(t)也上升,当U(t)上升到Us时,气泡上电压Uc达到气泡击穿电压,气泡击穿,产生大量的正、负离子,在电场作用下各自迁移到气泡上下壁,形成空间电菏,建立反电场,削弱了气泡内的总电场强度,使放电熄灭,气泡又恢复绝缘性能。这样的一次放电持续时间是极短暂的,对一般的空气气泡来说,大约只有几个毫微秒(10的负8次方到10的负9次方秒)。所以电压Uc(t)几乎瞬间地从Vc降到Vr,Vr是残余电压;而气泡上电压Uc‘(t)将随U(t)的增大而继续由Vr升高到Vc时,气泡再—次击穿,发生又—次局部放电,但此时相应的外施电压比Us小,为(Us-Ur),这是因为气泡上有残余电压Vr的内电场作用的结果。Vr是与气泡残余电压Yr相应的外施电压,如此反复上述过程,即外施电压每增加(Us-Ur),就产生一次局部放电.直到前—次放电熄灭后,Uc’(t)上升到峰值时共增量不足以达Vc(相当于外施电压的增量Δ比(Us-Ur)小)为止。

 

 

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